扫描电镜可实现更多功能

扫描电镜可实现更多功能

扫描电镜可简化从样品观察、图像确认到生成报告等一系列操作过程，大幅提高了工作效率，还标配了报告生成功能，观察结束后可十分轻松地将拍摄的图像制作成格式的报告，此外，选配项还可实现更多功能。

扫描电镜的低真空系统使得样品不需任何处理即可快速进行观察，优化提供5kV、10kV、15kV三种不同电压下的观察模式，沧州FIB电镜制样，每种模式下电流4档可调，并配备4分割背散射探测器，可四个不同方向的图像信息，对样品进行多种模式成像。扫描电镜具有全新的导航功能，同时，电镜图片可以报告形式导出，配备大型样品仓，FIB电镜制样机构，可容纳大样品直径80mm，厚度50mm。

扫描电镜是一台、功能强大的高分辨应用型扫描电子显微镜。系统采用多接口的大样品室和艺术级的物镜设计，提供高真空成像功能，可对各种材料表面作分析。并且具有业界的X射线分析条件，样品台为五轴全自动控制，标准的率无油涡轮分子泵满足快速的样品更换和无污染成像分析。

扫描电子显微镜的原理介绍

　　扫描电子显微镜的原理介绍： 　　扫描电子显微镜是一种利用高能聚焦电子束扫描样品表面，从而获得样品信息的电子显微镜。因此其使用电子束为照明源，电子束在样品表面扫描，利用电子还有物质作用所产生的信息结合电子光学原理进行成像。判断扫描电镜性能主要根据分辨率还有有效放大倍数。分辨率也就是可以分辨的小距离。扫描电子显微镜(SEM)是一种介于透射电子显微镜与光学显微镜之间的一种观察手段。它是运用聚焦十分窄的高能电子束来扫描样品，通过光束合物质间的相互作用，来激发各种物理信息，对这些信息收集、放大还有再成像为了达到对物质微观形貌表征的目的。

扫描电子显微镜的结构

为透射电镜是TE进行成像的，FIB电镜制样费用，这就要求样品的厚度一定要确保在电子束可以穿透的尺寸范围内。因此就需要通过各种较为繁杂的样品制备手段把大尺寸样品转变到透射电镜能给接受的程度。

　　可不可以直接利用样品表面材料的物质性能进行微观成像，FIB电镜制样哪家好，成为科学家追求的目标。

　　通过努力，这种想法已成为现实——扫描电子显微镜(ScanningElectronicMicroscopy，SEM)。

　　扫描电子显微镜（SEM）——运用特别细的电子束在被观测样品表面上进行扫描，通过分别收集电子束和样品相互作用产生的一系列电子信息，通过转换、放大而成像的电子光学仪器。是探索研究三维表层构造很有帮助的工具。

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