因为开关外观检测借助折射光来开展剖析和判断，但有岁月会遭受一些随机因素的影响而导致错判。如元器件焊端有脏污或焊层侧的印刷线有一部分未开展涂覆有一部分外露，进而导致检索欠佳等。而且检验新项目越多，很有可能导致的乱报也会稍多。该类乱报属任意乱报，没法清除。根据此，开关外观检测业内普遍现象一个的共识，即AOI乱报难以避免，但能够 降低。业内认可的理想化情况下可接受误测为3000PPM之内。如今人工智能技术的发展趋势，机器视觉技术已引进深度神经网络优化算法，可能降低AOI检测错判，后边大家再与大伙儿一起沟通交流人工智能技术新技术应用AOI机器设备，智能化图象剖析技术性的深度神经网络优化算法。

开关外观检测别名AOI电子光学全自动检测设备已经变成电子器件加工制造业保证产品品质的关键测试工具和全过程质量管理工具。当机器设备开展自动识别时，开关外观检测设备根据超清CCD监控摄像头全自动扫描仪PCBA商品，收集图象，检测的检测点与数据库查询中的达标的主要参数开展较为，历经图象处理，查验出总体目标商品上的缺点，并根据显示屏或全自动标示把缺点表明/标识出去，供维修人员整修和SMT工程项目工作人员改进加工工艺。开关外观检测的大概步骤是那样的：根据图形识别法，将AOI系统软件中储存的规范智能化图象与具体检验到的图象开展较为，进而得到检验結果。

开关外观检测错判的界定及存有原困、检验错判的界定及存有原困、检验错判的界定及存有原困错判的三种了解及造成缘故能够 分成以下几个方面：1、元器件及点焊原本有产生欠佳的趋向，但处在允收范畴。如元器件原本发生了偏位，但在允收范畴内；该类错判主要是因为预设值设置过严导致的，也可能是其自身处于欠佳与优品规范中间，AOI与MV(人力目检)确定导致的误差，该类错判是能够 根据调节及与MV融洽规范来减少。2、元器件及点焊无不良倾向，但因为DFM设计方案时未考虑到AOI的可测性，而导致AOI判断良是否有一定的难度系数，为确保验出实际效果，将引进一些错判。如焊层设计方案的太窄或过短，开关外观检测开展检验时较难开展很的判断，此类情况所导致的错判较难清除，除非是改善DFM或舍弃该类元器件的点焊欠佳检验。