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目前业界的AOI概念大多是在2D的基础上检测元件。但2D技术存在一定的局限性,比如印胶爬锡部分的信息不够,检测时多发生误判情况,厂商对此很不满意。为了减少误判率,我们以3D技术为基础,3D光学检测设备价格,开发新的3D AOI设备。3D AOI优点是可以检测爬锡部分的高度,以及零件本身的高度。这样可以让客户分析爬锡部分的情况,比如印胶翘起问题,爬锡部分的多锡、少锡、假焊,都能够检测出来。随着电子元件小型和严格化,宿迁3D光学检测设备,电子公司导入3DAOI 是的。
2D AOI和3DAOI技术区别在于,2D AOI只能检查缺陷,3D AOI完全不同,3DAOI技术是通过测量尺寸高度来判断缺陷。用3DAOI可以测量元件高度,根据该高度设置公差超出这个公差意味着有缺陷,在公差范围之内则是合格。所以,aol光学检测设备3d,我们有不合格产品的测量数据,这是3D AOI的关键优势。我们可以利用这些测量数据。优化和改进工艺,终达到非常低误报的检测力。
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