半导体膜厚检测仪—广州景颐光电科技有限公司是一家专门做膜厚仪的厂家

膜厚仪的使用注意事项

膜厚仪的出现很大程度上提高了我们的工作效率，但是不当的使用方法也会得出不准的测量结果，因此，在使用过程中需要注意以下事项：

1、测量应为点接触，严禁将探头置于被测物表面滑动。

2、测量时，探头应保持在待测点中心，探头外围不要悬空在待测面外。

3、远离强磁体（磁铁、音响等）和强电磁场（变压器、电磁炉等）测量。

4、仪器使用前，建议进行调零操作。

5、请确保待测物体表面清洁，待测面上的灰尘和泥土等会影响测量结果。

6、仪器显示low battery时，半导体膜厚检测仪价格，需换新电池。

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膜厚仪的特点有哪些

膜厚仪是薄膜厚度测量仪的简称，是一种用来在线并定量的测量透光或者半透光的各种薄膜厚度的仪器仪表，通常采用光干涉原理测量薄膜厚度。

厚仪的特点

1，可以测量多层膜中每一层的厚度

2，三维的厚度型貌

3，远程控制和在线测量

4，半导体膜厚检测仪厂家，可做150mm or 300mm 的大范围的扫描测试

5，丰富的材料库：操作软件的材料库带有大量材料的n和k数据，基本上的常用材料都包括在这个材料库中.用户也可以在材料库中输入没有的材料.

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涂层膜厚仪品牌优势：

1. 测量面积：无需搭配昂贵的毛细聚焦管可测量直径0.05mm样品区域。

2. 异形件测试：所有台式机都搭载变焦装置，安庆半导体膜厚检测仪，配置EFP算法，可检测凹凸高低落差不同的各种异形件。

3. 复杂特种涂镀层、渗层测试：***的EFP算法不但对多层测试、校准方便，半导体膜厚检测仪价位，而且解决了多层合金、上下元素重复镀层及渗层的检测难题。

4. 更广的分析范围、轻元素测试：EFP多元迭代算法，利用特征射线的发射、吸收、散射及二次荧光等等迭代计算，可分析到更多探测器无法检测到的发射光谱，分析范围更广。

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