XRD物相分析检测——广东省科学院半导体研究所是广东省科学院下属骨干研究院所之一，主要聚焦半导体产业发展的应用技术研究，XRD物相分析检测哪里可以做，兼顾重大技术应用的基础研究，从事电子信息、半导体领域应用基础性、关键共性技术研究，以及行业应用技术开发。

不能精修的原因与解决办法

选择精修命令后，有时会出现“Unable to Graft hkl’s to peaks”的提示。表明不能进行精修。其原因有两种：一是有些拟合的峰没有对应的(hkl)标记。例如，XRD物相分析检测服务，测量铁素体的5条线，但检索PDF卡片只有前3条线，3条衍射线不能进行精修。二是衍射峰位相对于“选定结构 (标准卡片)”的峰位偏离太多。

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原位XRD的测试可以在短时间内得到大量可对比信息，由于原位测试的整个过程是对同一个材料的同一个位置的测试，因此得到的信息（无论是晶胞参数还是峰强度，还是其他的参数）都是具有相对可比性的。

而非原位XRD得到的信息相对可比性较差且对测试过程中的操作要求较高，比如，极片拆卸洗涤后如果极片处于褶皱状态，材料测试的会产生高低变化，测到的XRD的峰会发生偏移，相应的精修得到的晶胞参数也会有所变化；而不同极片活性材料质量和分布必然存在不同，这也必然导致不同充放电状态下的峰强可比性是比较差的。

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应力测量要注意的问题

●常规的X射线应力测试，只是对无粗晶和无织构的材料才有效，否则会给测试工作带来一定难度。

●对于非理想组织结构的材料，必须采用特殊的方法或手段来进行测试，XRD物相分析检测哪家好，但某些问题迄今未获得较为圆满的解决。

●如果晶粒粗大，各晶面族对应的德拜环则不连续，当探测器横扫过各个衍射环时，所测得衍射强度或大或小，衍射峰强度波动很大，依据这些衍射峰测得的应力值是不准确的。

●为使德拜环连续，获得满意的衍射峰形，必须增加参与衍射的晶粒数目。

●为此，对粗晶材料一般采用回摆法进行应力测量。目前的大多数衍射仪或应力仪，都具备回摆法的功能。

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