半导体XRD研究所-锂电XRD检测价格





锂电XRD检测——广东省科学院半导体研究所是广东省科学院下属骨干研究院所之一,主要聚焦半导体产业发展的应用技术研究,兼顾重大技术应用的基础研究,从事电子信息、半导体领域应用基础性、关键共性技术研究,以及行业应用技术开发。


由于百分之一i百的晶态的试样比较难制备,所以通常使用差异分析法。假定结晶相百分数正比于衍射峰积分强度之和,非晶相百分数正比于非晶散射峰积分强度。

即Xc=PIc;Xa=QIa

则:Xc=Ic(Ic+kIa)X100%

【注意:Ic为晶体部分的衍射积分强度,Ia为非晶部分的衍射积分强度。K=Q/P,是晶体部分和非晶部分之间的单位物质的相对散射因子】

由上式已知,若温度K也已知,则即可求出样品的结晶点。但相对干同一个试模而言,K是常量。人们可利用测定二个不同结晶度的同一试模来计算出K值,从而得出试样的结晶度。

相对结晶度

如果将K值取1则Xc=Ic/(Ic+Ia),即为相对结晶度。

这个统计方法虽然不准确,但对试样也存在择优取向,且同晶相合非晶相的化学成分也相同,可认为,锂电XRD检测多少钱,该法有比较意义。其实,得到结晶性相当麻烦,所以相对结晶度反而是比较常用的办法。

分析晶体衍射基础的公式是布拉格定律:2d sinθ=nλ

【注意:λ为X guang线的长度,n则为的正整数,即衍射级数】


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XRD图谱显示石墨样品显示出两个主要衍射峰(2θ=26.36和44.32?), 晶格间距分别为3.38?和2.04?。对于PAN硬质碳样品,还观察到两个主要的宽而突出的XRD衍射峰,表明PAN硬质碳具有低结晶度的无定形结构。随着炭化温度的升高,衍射峰向小角度移动。对于碳化温度为1050℃样品,在24.78和43.29处的衍射峰观察到晶格间距分别为3.59 ?和2.09?。与石墨相比,PAN硬碳的衍射角较小,相应的层间距较大,层间距相较于石墨变宽,为嵌入和去除锂离子提供了宽敞的通道。将所得PAN硬质碳用作锂离子电池的负极材料,其初始容量为343.5 mAh g?1,与石墨电极(348.6 mAh g–1)的初始容量相等,初始库仑效率比石墨电极高。并且PAN硬碳电极在不同电流速率下表现出优异的循环稳定性和倍率性能。

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X射线衍射仪(XRD)相关术语解释

步进扫描粉末衍射仪的一种工作方式(扫描方式)。试样每转动一步(固定的Δθ)就停下来,测量记录系统开始测量该位置上的衍射强度。强度的测量也有两种方式:定时计数方式和定数计时方式。然后试样再转过一步,香港特别行政锂电XRD检测,再进行强度测量。如此一步步进行下去,完成角度范围内衍射图的扫描。  

用记录仪记录衍射图时,采用步进扫描方式的优点是不受计数率表RC的影响,没有滞后及RC的平滑效应,锂电XRD检测哪家好,分辨率不受RC影响;尤其它在衍射线强度极弱或背底很高时特别有用,在两者共存时更是如此。因为采用步进扫描时,可以在每个θ角处作较长时间的计数测量,以得到较大的每步总计数,从而可减小计数统计起伏的影响。  

步进扫描一般耗费时间较多,因而须认真考虑其参数。选择步进宽度时需考虑两个因素:一是所用接收狭缝宽度,步进宽度至少不应大于狭缝宽度所对应的角度;二是所测衍射线线形的尖锐程度,步进宽度过大则会降低分辨率甚至掩盖衍射线剖面的细节。为此,步进宽度不应大于尖锐峰的半高度宽的1/2。但是,也不宜使步进宽度过小。步进时间即每步停留的测量时间,若长一些,可减小计数统计误差,提高准确度与灵敏度,但将损失工作效率。


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