Phase12 热阻测试仪产自美国 Analysis Tech(Anatech)公司，符合美军标和 JEDEC 标准.

      Analysis Tech Inc.成立于 1983 年，坐落于波士顿北部，是电子封装器件可靠性测试的国际设计，制造公司。创始人 John W.Sofia 是美国麻省理工的博士，并且是提出焊点可靠性，热阻分析和热导率理论的. 发表了很多关于热阻测试于分析，热导率及焊点可靠性方面的. Analysis Tech Inc.在美国有独立的实验室提供技术支持. 在全世界热阻测试仪这套设备有几百家客户.

      主要用于测试二极管，三极管，线形调压器，可控硅，LED，MOSFET，元器件失效分析报价，MESFET ，IGBT，IC 等分立功率器件的热阻测试及分析。

工作原理：热阻测试仪提供了非破坏性的热测试方法，常州元器件失效分析，其原理为：　　1、首先通过改变电子器件的功率输入；　　2、通过TSP测试出电子器件的瞬态温度变化曲线；　　3、对温度变化曲线进行数值处理，元器件失效分析价格，抽取出结构函数；　　4、从结构函数中自动分析出热阻和热容等热属性参数。苏州特斯特电子科技有限公司，主要从事各类测试、检测仪器设备的代理销售和技术服务，产品涵盖电子元器件，电路板，线缆线束的测试与检测。设备主要来自于欧美日等***测试设备制造国家。



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