TR8100LV为德律科技阶之电测设备，专为大型且复杂的电路板且低电压测试所设计。TR8100LV的真空系统可确保全部针点良好接触性，非多工式驱动/接收式数位结构,可达3,584点，针对多针点之元件测试更快更简易且制作程序更快。TRI ToggleScan与 VregTest 测试技术结合边界扫描提供少量或无测试点之解决方案。
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TRI8100LV、TRI5001E、Agilent3070、agilent i1000D
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TRI8100LV能够定量地对电阻、电容、电感、晶振等器件进行测量，对二极管、三极管、光耦、变压器、继电器、运算放大器、电源模块等进行功能测试，对中小规模的集成电路进行功能测试，如所有74系列、Memory 类、常用驱动类、交换类等IC。
它通过直接对在线器件电气性能的测试来发现制造工艺的缺陷和元器件的不良。元件类可检查出元件值的超差、失效或损坏，Memory类的程序错误等。对工艺类可发现如焊锡短路，元件插错、插反、漏装，管脚翘起、虚焊，PCB短路、断线等故障。
测试的故障直接定位在具体的元件、器件管脚、网络点上，故障定位准确。对故障的维修不需较多***知识。采用程序控制的自动化测试，操作简单，测试快捷迅速，单板的测试时间一般在几秒至几十秒。