薄膜测厚仪
价格:¥50.00
SAK光谱共焦传感器
---透明及多层材料,镜面之位移厚度解决方案
---非接触量测各种材质
非接触/高精度/高***
SAK彩色光谱共焦传感器是一种精度可达次微纳米量级的非接触式位移量测系统, 可测量漫反射/镜面反射及透明多层材质的位移,厚度,也适合深孔/盲孔工件等运用。
原理
利用***的彩色编码镜头使可见光产生轴向色散输出,并经由光谱解析器解析共焦回传光波讯号,透过波长与位移转换曲线计算出工件位移量测值。
优势及特点
稳定量测各类材质,例如金属/陶瓷/镜面/玻璃等。
适用于各种形貌(包含深孔/斜面/弧面)之特征尺寸量测,
例如高度/段差/厚度/平面度/轮廓度等。
高温高压等严苛操作条件下亦能适应正常使用。
测头结构轻巧,易整合于各行业之自动化测量应用。
结构轻巧且内部不含电子零件而不受环境干扰影响。
***多层材质量测算法,可量测透明/半透明多层材质间之厚度或间隙。