表面污染测量仪的刻度

为了准确测量总的表面活度，现场监测仪器必须经过适当刻度。 刻度源应选择其发射的 α或β辐射与现场污染物预期的辐射能量相似。 很有代表性的刻度源要用现场被评估的放射性材料制备。 例如，铀系和牡系衰变图很复杂，发射 α，β和γ，仪器对每个单核素的刻度必需仔细评估，以确保探测器对这些衰变系的响应。

仪器的MDC取决于辐射的类型和能量，对其选择的核素要代表现场通常碰到的核素类型与能量范围。 这些核素对β是14 C，αβ表面污染测量仪价格，63 Ni，90 Sr，αβ表面污染测量仪供应商，Y ，99 Tc 和204Tl，αβ表面污染测量仪批发，对 α 是230 Th 和239Pu。 一般讲，源有三种几何形状：“纽扣源” （类似点源，大约5 cm2），盘源，覆盖标准面积大约 15 cm2，或者分布源，典型面积范围从126到150 cm2 。

表面污染测量仪

HD-3021 αβ表面污染测量仪由闪烁体探测器、光电倍增管、信号放大电路、窗甄别器、高压电路、CPU处理电路、显示电路和电源电路等几部分组成。

当α或β射线通过闪烁体时，闪烁体吸收入射粒子能量继而激发出光子，光子被光电倍增管的光阴极吸收转换成电流，形成电信号送入放大器，放大后的信号经甄别器按幅度大小区分出α或β信号，分别送至不同的计数电路，经CPU计数->运算->处理后在液晶屏上显示。

表面污染测量方法

表面污染可以用直接测量、扫描测量和间接测量确定。 直接测量是用监测仪器进行，可以测量固定污染，上海αβ表面污染测量仪，也可测量松散污染；测量时，以适当距离在待测对象的上方放置探测器，按预定时间间隔测量并记录读数。 扫描测量是用探测器在可能受到污染的表面上方进行移动测量，以确定受污染的区域或点位，在发现异常点位时再进行定位测量。 间接测量是用擦拭方法确定松散污染的水平。 对一些不能活动的固体或者贮存有液体的表面，或者有高本底影响，或者测量仪器不能靠近表面，直接测量是困难的，甚至是不可能的。此时只能采用间接测量方法。

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