大庆漆膜测厚仪-永利达实验室设备公司-漆膜测厚仪型号





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涂层测厚仪(膜厚仪)所采用的原理

目前涂层测厚仪(膜厚仪)所采用的原理基本是以下几种: 1. 性测厚法:利用射线穿透检测。此类仪器价格非常昂贵(一般在10万以上)。适用于一些特殊环境,各项技术参数要求相对比较高,使用范围相对狭窄。 2. 超声波测厚法:利用超声波频率变化检测。适用于多层涂层厚度的测量。一般价格昂贵,测量精度也不高,国内暂时还没有投入生产。 3. 微波激光测厚法:正在研发中。 4. 电解测厚法:需要破坏涂层,属于有损检测,漆膜测厚仪价钱,基本上已弃用。 5. 涡流测厚法:利用涡流原理检测。适用于导电金属上的非导电层厚度测量。也就是我们一般所说的铝基膜厚仪。 6. 磁性测厚法:适用导磁是否会的非导磁层厚度测量。也就是我们一般所说的铁基膜厚仪,这种方法测量结果精度高。 目前国内的涂层测厚仪基本是采用涡流测厚法或磁性测厚法或二者相结合的原理。


纸张的光泽度是评价纸张表面反射光能力的技术指标。光泽度指标主要用来评价涂布纸,如铜版纸、铸涂纸。纸张的光泽度主要由纸张表面施胶材料和工艺决定。测量纸张光泽度的仪器是镜面光泽度测定仪,原理是用一束标准白光源沿与纸张垂直线成20°、45°、75°角入射,再用光沿反射方向接收,通过接收光强度与标准的相比较的百分数为其光泽度。


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