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对于600 nm以上的波长范围，通过已知色温数据的标准钨灯光源作为黑体来求得发射光谱校正曲线[12]，广州荧光效率测定仪，如图7所示。校正方法是将标定过色温数据的钨灯放入样品室，调整标准电源达到标准钨灯的标定电流工作模式，荧光效率测定仪价格，使标准钨灯达到已知的色温状态。仪器执行发射波长扫描，扫描波长范围为600～900 nm。此时得到的光谱为W（λ）。这样就可以获得600～900 nm仪器发射光谱综合响应特征系数M（λ600～900），即式中：M（λ600～900）为600～900 nm仪器发射光谱综合响应特征系数；W（λ）为600～900 nm发射波长扫描光谱；H（λ，T）为色温T时的黑体辐射曲线；T为标准钨灯的色温。

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荧光是一种常见的光致发光现象。当某些物质分子被光照射时，荧光团形成能量激发态，并终通过失活（能量损失）返回基态。荧光过程中主要的失活过程包括辐射跃迁（荧光）、内部转换、振动弛豫以及系间窜越等。本实验利用甲醛修饰聚乙烯并包覆纳米金合成了一种荧光聚合物。聚乙烯是一种多胺，由于富含胺，在纳米材料的合成和表面改中，可以作为有效的稳定剂。超支化聚乙烯（hPEI）具有高度分支的结构和丰富的伯胺、仲胺和叔胺基团。聚乙烯中胺基的N含有孤对电子，使得hPEI具有很高的反应活性和良好的吸附性等优良的性能。

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实验验证

利用荧光量子产率测量系统，对已知荧光量子产率的物质进行测量验证，测试结果如表1。对比测试结果表明，新研制的荧光量子产率测量系统所得出的物质荧光量子产率数据与传统参考文献的数据基本一致，且在不同的测试波长范围内均能保持较高的准确性。

结　论

研制的国产荧光量子产率测量系统，荧光效率测定仪，主机采用国产F98荧光分光光度计，样品光路设计采用积分球技术，光谱校正采用量子计数器和标准钨灯方式，荧光效率测定仪厂家，配合荧光量子产率分析软件，可实现对物质荧光量子产率的法测量。用已知量子产率的标准物质进行验证，结果表明，系统的测量准确性较高，可满足大部分荧光物质的测试要求。系统的研制使我国在荧光量子产率测量方面取得重要进展，是目前国内实现商品化的荧光量子产率测量系统。

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