跌落测试试验-苏州天标检测





在ANSYS图形界面观察被测物体和目标面是否满意。如果满意并摘要的结尾出现Successful Set-up.Ready to drop.字样,就表示程序数据检查无误,就可以选择Main Menu>Drop Test>Solve命令进行求解。在求解过程中,用户还可以通过Sw系列开关对计算过程进行监控,跌落测试试验,同时获得一些实时统计信息。(4)观察分析结果。一旦计算完成,就可以选择Main Menu>Drop Test>Animate Results命令对跌落物体录制动态结果(如Von Mises应力),同时还可以通过Main Menu>Drop Test>Time History命令观察模型中某个时间点的分析结果。


对于不同国际规范即使产品在相同重量下但掉落高度也不相同,对于手持型产品(如手机, MP3等)大多数掉落高度大都介于100cm ~ 150cm不等,IEC对于≦2kg之手持型产品建议应满足100cm之掉落高度不可损坏,MIL则建议掉落高度为122cm,Intel对手持型产品(如手机)则建议落下高度为150cm。试验的严苛程度取决于跌落高度、跌落次数、跌落方向。


跌落测试分析分成以下几个主要步骤:(1)建立和输入模型。在进入跌落测试分析模块之前,用户必须先建立或输入被测试物体的模型,也就意味着必须定义所有的单元、实常数、材料模型(包括阻尼)等。在建立或输入模型过程中,必须要注意以下几点:1.必须定义材料的密度和弹性模量,并确保数值不能为零,否则程序将无法计算。2.定义阻尼选项,以消除计算过程中的数值振荡。3.避免使用三角、四面体、棱柱单元以及小单元。


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