不同的元素所释放出来的二次X射线具有特定的能量，这一个过程就是我们所说的X射线荧光（XRF）。探测系统测量这些出来的二次X射线的能量及数量。然后仪器软件将探测系统所收集到的信息转换成样品中各种元素的种类及含量——每种元素的发射强度与样品中的元素含量成正比，通过预先设置好的校正曲线计算出来，可显示其含量。特点分析范围：0.3%～99.99%测量时间：自适应测量精度：±0.1%测试环境：常温常态.

用峰高积分方式，实时观测整个测试过程，调整原子化器三维参数。

友好的软件界面，强大的软件功能，可实现多种曲线方法及测试方法，推荐适合仪器测试条件，测试数据的图形显示和回放、统计与查询，各种图形、数据的页面保存和打印等功能。

悬浮式测量窗口，EDX-6000 微光斑黄金检测仪哪里有，增加可显示信息数量（荧光强度、空白值等）。

数据自动保存，Word、Pdf、Excel等多种输出报表格式。

数据输出备份与恢复功能：输出标准曲线、测试数据等信息的.bak文件，便于数据备份与恢复。

强大的系统帮助功能。

X 射线荧光光谱仪也是野外现场分析和过程控制分析等方面仪器之一。中文名X射线荧光分析仪检出下限Cd/Pb/Hg/Br/Cr≤5ppm样品形状大460×380mm(高150mm)适用对象塑料/金属/纸/涂料/油墨/液体，在测定微量成分时，由于X射线管的连续X射线所产生的散射线会产生较大的背景，致使目标峰的观测比较困难。为了降低或消除背景和特征谱线等的散射X射线对高灵敏度分析的影响，此荧光分析仪配置了4种可自动切换的滤光片，有效地降低了背景和散射X射线的干扰，调整出具感度的辐射，进一步提高了S/N的比值，从而可以进行更高灵敏度的微量分析。




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