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搭配Probe card测试适用领域:8寸/6寸Wafer、IC测试之产品电动型chuck尺寸1200mm,平坦度土1u(不锈钢或镀金)X,Y电动移动行程300mm x 300mmchuck粗调升降9mm,微调升降16mm,测试仪规格,微调精度土1u可搭配MITUTOYO晶像显微镜或者AEC实体显微镜针座摆放个数8~12颗显微镜X-Y-Z移动范围2“x2”x2“材质:花岗岩台面+不锈钢可搭配Probe card测试
一种多通道数字输出模块 具体实施方式[0030]如图2所示,在本实施方式中,主控电路包括主控芯片U1,测试仪批发,主控芯片U1连接隔离器,主控芯片U1将控制信号输出传递给隔离器,其中主控芯片U1主要采用MSP430F5438IPZ系列控制器,具有多个输入输出通道,可实现同时多个控制信号的输出。在本实施方式中,主控芯片U1还连接有通讯电路,通讯电路包括通讯接口RJ1和通讯芯片U2,通讯芯片U2与主控芯片U1连接,测试仪,实现数据的交互,通讯芯片U2与通讯接口RJ1连接,通讯接口RJ1用于与外设连接,通讯芯片U2通过通讯接口RJ1实现数据的收发。
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