鄂尔多斯EDX8000TPlusXRF镀层测厚仪-英飞思科学





应用编辑 语音1、激光测厚仪是利用激光的反射原理,根据光切法测量和观察机械制造中零件加工表面的微观几何形状来测量产品的厚度,是一种非接触式的动态测量仪器。它可直接输出数字信号与工业计算机相连接,并迅速处理数据并输出偏差值到各种工业设备。2、X射线测厚仪利用X射线穿透被测材料时,X射线的强度的变化与材料的厚度相关的特性从而测定材料的厚度,是一种非接触式的动态计量仪器。



>镀铬,例如带有装饰性镀铬饰面的塑料制品

>钢上锌等防腐涂层

>电路板和柔性PCB上的涂层

>插头和电触点的接触面

>电镀液分析

>镀层,如金基上的铑材料分析

>电镀液分析

>分析电子和半导体行业的功能涂层

>分析硬质材料涂层,例如 CrN、TiN 或 TiCN

>可拓展增加RoHS有害元素分析功能







膜厚仪EDX8000B可分析的常见镀层材料

可测试重复镀层、非金属、轻金属、多层多元素以及有机物层的厚度及成分含量。

单涂镀层应用:如Cr/Fe, Ni/Fe, Ag/Cu,Zn/Fe等

多涂镀层应用:如Au/Ni/Cu, Ag/Pb/Zn,EDX8000TPlusXRF镀层测厚仪, Ni/Cu/Fe等

合金镀层应用:如ZnNi/Fe, ZnAl/Ni/Cu等

合金成分应用:如NiP/Fe, 同时分析镍磷含量和镀层厚度







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