英飞思科学仪器公司-长治镀层测厚仪膜厚仪





⒌测量前要注意周围其他的电器设备会不会产生磁场,如果会将会干扰磁性测厚法。⒍测量时要注意不要在内转角处和靠近试件边缘处测量,因为一般的测厚仪试件表面形状的忽然变化很敏感。⒎在测量时要保持压力的恒定,镀层测厚仪膜厚仪怎么用,否则会影响测量的读数。⒏在进行测试的时候要注意仪器测头和被测试件的要直接接触,因此超声波测厚仪在进行对侧头清除附着物质。



它以PLC和工业计算机为,采集计算数据并输出目标偏差值给轧机厚度控制系统,镀层测厚仪膜厚仪哪里有,达到要求的轧制厚度。主要应用行业:有色金属的板带箔加工、冶金行业的板带加工。3、纸张测厚仪:适用于4mm以下的各种薄膜、纸张、纸板以及其他片状材料厚度的测量。4、薄膜测厚仪:用于测定薄膜、薄片等材料的厚度,测量范围宽、测量精度高,镀层测厚仪膜厚仪怎么样,具有数据输出、任意位置置零、公英制转换、自动断电等特点。5、涂层测厚仪:用于测量铁及非铁金属基体上涂层的厚度.



英飞思XRF镀层测厚仪优势

>微光斑X 射线聚焦光学器件

通过将高亮度一次 X 射线照射到0.02mm的区域,长治镀层测厚仪膜厚仪,实现高精度测量。

>硅漂移探测器 (SDD) 作为检测系统

高计数率硅漂移检测器可实现高精度测量。

>高分辨率样品观测系统

的点位测量功能有助于提高测量精度。

>全系列标配薄膜FP无标样分析法软件,可同时对多层镀层及全金镀层厚度和成分进行测量

配合用户友好的软件界面,可以轻松地进行日常测量。






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