材质必须均匀。你的待测元素不均匀的话，多的地方和少的地方差别会较大。因为XRF光谱仪入射光线一般较窄，直径1-5微米，也就是说照射到样品的区域会很小，所以不均匀样品检测会不准确，当然主要也是看不均匀程度。

你的交错规律排列指的什么？如果是一层高分子，一层无机物，在一层高分子一层无机物，并且每层的厚度一定（比如层高分子都是10微米厚）。这样的可以在一定程度上看成是均匀的，但是用X荧光光谱仪测量还是有问题，因为X荧光透过不同物质有厚（某元素的X荧光透射不出来的厚度，CS995型红外碳硫分析仪，原因是自吸收）的问题。

近几年，一直备受关注的欧盟强制性标准——《关于限制在电子电器设备中使用某些有害成分的指令》RoHS 指令，相对于旧版，多将新版欧洲 RoHS 指令称作 RoHS2.0），在的颁布稿中也将邻苯二甲酸

二(2-已)酯(DEHP)、邻苯二甲酸二丁酯（DBP）、邻苯二甲酸丁苄酯（BBP）和(DIBP)，这 4 种物质添加为限制使用物质。这些物质分别以均质材料中 0.1%为允许浓度，于 2019 年 7 月 22 日起实施。该指令实施后，在 EU 上市的所有电气和电子设备（以及监视控制设备除外）及其下游供应商生产的零部件、原材料和包装件等均涉及到 DEHP、DBP、BBP、DIBP 含量的检测。

使用这些标样可以根据的化学含量对测量出的XRF强度进行校准。通过这样的校准，能够以准确度和度确定未知聚合物样品的成分。美国加联提供的标样的元素分布同质性极高，而且，由于标样中的各种元素含量经过精挑细选且不具关联性，因此可以准确确定谱线重叠校正系数。校准标样程序包包含四个多元素聚乙烯标样（每个标样的元素含量和重复项各不相同）和一个空白样。




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