x射线发生装置角度校准的光学新方法

目前x射线发生装置的角度检定和校准测试主要依据JJG 629—1989《多晶X射线衍射仪检定规程》和JB/T 9400—2010《X射线衍射仪技术条件》等技术文件，具体方法是采用光学经纬仪或多面棱体等进行测试，该测量方法实际应用中存在一定难度，其次测量间隔较大，不能很好反映真实的角度误差规律.为此，提出了利用θ角和2θ角同轴并可独立运动的特点，组合采用光电自准直仪和小角度激光干涉仪等仪器，低能x射线发生装置价格，设计了一种新的XRD的角度校准方法，低能x射线发生装置报价，它能够自动快速地连续测量角度，取k=2时，低能x射线发生装置，扩展不确定度约1.2″.使用该方法测试能够得到θ和2θ轴的误差数据，可用于修正XRD测角误差，提高XRD测试精度.该方法也适用于同步辐射等大型衍射系统等其他需要角度校准的情况.

x射线发生装置结构组成：

（1）X射线发生器 —— 产生X射线的装置；X射线发生器由X射线管、高压发生器、管压和管流稳定电路以及各种保护电路等部分组成。

（2）测角仪 —— 测量角度2θ的装置；测角仪是X射线衍射仪测量中部分，用来测量衍射角。

（3）X射线探测器 —— 测量X射线强度的计数装置；计数器的主要功能是将X射线光子的能量转换成电脉冲信号。通常用于X射线衍射仪的辐射探测器有正比计数器、闪烁计数器和位敏正比探测器。

（4）X射线系统控制装置 —— 数据采集系统和各种电气系统、保护系统。

x射线发生装置使用范围：

金属材料：半导体材料、合金、超导材料、粉末冶金材料；无机材料：陶瓷材料、磁性材料、催化剂、矿物、水泥、玻璃；复合材料：碳纤维、纤维大分子、工业废弃物；有机材料：品、工程塑料、各种树脂等。利用波长很短的电磁波能穿透一定厚度的物质，并能使荧光物质发光、照相机乳胶感、气体电离，测定物质的晶体结构，低能x射线发生装置公司，织构及应力，的进行物相分析，定性分析，定量分析。

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