在选择微焦点x射线源时需考虑X射线束的视野直径，即射线束的出射角。当需要在小焦距下完成微焦点射线照相时，出射角尤其重要。如40°出射角的管头相对于20°的管头，当在焦距一定，透照相同检测面积时，X-RAY检测，需要的曝光次数较少。    焦点至管头x射线窗口端面的小距离决定了被检测物体离射线源的小距离，决定了系统可以得到的大几何放大。

      Phase12 热阻测试仪产自美国 Analysis Tech(Anatech)公司，符合美军标和 JEDEC 标准.

      Analysis Tech Inc.成立于 1983 年，坐落于波士顿北部，是电子封装器件可靠性测试的国际设计，制造公司。创始人 John W.Sofia 是美国麻省理工的博士，并且是提出焊点可靠性，X-RAY检测产品，热阻分析和热导率理论的. 发表了很多关于热阻测试于分析，热导率及焊点可靠性方面的. Analysis Tech Inc.在美国有独立的实验室提供技术支持. 在全世界热阻测试仪这套设备有几百家客户.

      主要用于测试二极管，三极管，线形调压器，X-RAY检测价格，可控硅，LED，X-RAY检测设备有哪些，MOSFET，MESFET ，IGBT，IC 等分立功率器件的热阻测试及分析。

气密性测试仪是一种无损检漏设备，可广泛应用于电动牙刷、蓝牙音箱、耳机、对讲机等电子产品与阀门管件、电线、安防等产品.

的气密性/密封性检漏。气密性检测仪的检漏方法主要有直压法和差压法两种，具体采用哪-种需要根据产品的特点去决定。气

密性测试仪常见的一种气密性检测与防水测试方法是直压法，这种检测的就是产品内气压的总泄漏率或者说总泄漏率。直压检测

法做密封性测试就是将定量定压力气体充入试件中，然后通过传感器实时检测内部气压变化，以确认试件是否泄漏或泄漏量多少

的一种密封性测试方法。直压检测法实现起来简单，成本低所以用的比较多。

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