钢研纳克SparkCCD7000

高分辨率 CCD 检测器

像素数：3648+46 全行业较高

像素尺寸：8μm 全行业较小

精薄镀膜，紫外波段检出限更低，可做低含量 N

万级超净环境下打造较优光学系统

帕邢 - 龙格结构罗兰光学系统，无像差，分辨率均匀

高发光全息光栅，CCD光谱仪厂家，光栅焦距 500mm， 刻线为 2700 条 /mm，全行业较高

线分辨率 0.7407nm/mm

像素分辨率 0.005926nm

谱线范围：130-800nm（可分析 N、Li、 Na、K 等元素）

智能控制系统，再启动耗时行业较低

潮汐式冲洗方式，冷机（关机 12 小时）启动只需 30min，热机启动时间 5min

智能判断分析间隔时间，合理补充气，降低气消耗

60ml/min 超低待机流量，一瓶气 24 小时待机 70 天

分片式曝光，痕量元素识别强度大幅提高，检出限更低

一次激发，分片曝光，同时采集，同时回数

独立控制不同 CCD 的积分曝光时间

提升痕量元素的强度，降低仪器的检出限

随波段调节积分时间，提升仪器的 稳定性

直读光谱仪器的误差来源有哪些？

1)系统误差也叫可测误差，一般包括仪器的本身波动；样品的给定值和实际值存在一定的偏差（标准样品的元素定值方法可能和实际检测方法不一致，这样检测结果会有方法上的差异；同一种方法的检测结果也存在一定的波动）；待测样品和系列标样之间存在成分的差异，可能导致在蒸发、解离过程中的误差，如背景强度的差别和基体蒸发的差异等。

2)偶然误差是一种无规律性的误差，如试样不均匀；检测时周围的温湿度、电源电压等的变化；样品本身的成分差异等。

3)过失误差是指分析人员工作中的操作失误所得到的结果，可以避免。如制样不准确，样品前处理不符合要求，控样和待测试样存在制样偏差，选择了错误的分析程序等。

光电光谱分析选用的分析线，必需符合下列要求

直读光谱分析时，一般都采用内标法。因内标法进行分析时常采用多条分析线和一条内标线组成，常用试料中的基体元素为内标元素。组成的线对要求均称，就是当激发光源有波动时，两条线对的谱线强度虽有变化，但强度比或相对强度能保持不变。

如R表示强度比即        

R=I1/I0

I1为分析线的强度，Io为内标线强度，表明I1和Io同时变，而R则不受影响。R与含量C之间有线性关系。

在光电直读光谱分析时，有很多分析通道，要安装许多内标通道有困难，因此采用一个内标线。但有人认为再要提高光电光谱分析的准确度还得采用不同的内标线，这还有待于光电转换元件的小型化来解决。

光电法时，有时还用内标线来控制曝光量，称为自动曝光，也就是样品在曝光时，分析线和内标分别向各自积分电容充电，当内标线的积分电容器充电达到某一预定的电压时，自动截止曝光。此时分析线的积分电容器充电达到的电压即代表分析线的强度I，并且亦即代表分析线的强度比R(因为R=I1/Io，而此时Io保持常数)这个强度I或强度比R就由测光读数所表示。

现在一般采用计时曝光法较为普遍。

CCD光谱仪厂家由钢研纳克江苏检测技术研究院有限公司提供。钢研纳克江苏检测技术研究院有限公司实力不俗，信誉可靠，在北京 海淀区 的分析仪器等行业积累了大批忠诚的客户。钢研纳克带着精益求精的工作态度和不断的完善创新理念和您携手步入辉煌，共创美好未来！