膜厚仪EDX-8000B型XRF镀层测厚仪

Simply The Best

>微光斑X 射线聚焦光学器件

通过将高亮度一次 X 射线照射到0.02mm的区域，实现高精度测量。

>硅漂移探测器 (SDD) 作为检测系统

高计数率硅漂移检测器可实现高精度测量。

>高分辨率样品观测系统

的点位测量功能有助于提高测量精度。

测厚仪（thickness gauge ）是用来测量材料及物体厚度的仪表。在工业生产中常用来连续或抽样测量产品的厚度（如钢板、钢带、薄膜、纸张、金属箔片等材料）。这类仪表中有利用α射线、β射线、γ射线穿透特性的性厚度计；有利用超声波频率变化的超声波厚度计；有利用涡流原理的电涡流厚度计；还有利用机械接触式测量原理的测厚仪等。苏州英飞思科学仪器有限公司



使用注意事项编辑 语音测厚仪的测试方法主要有：磁性测厚法，测厚法，膜厚仪EDX8000T Plus，电解测厚法，涡流测厚法，超声波测厚法。测量注意事项：⒈在进行测试的时候要注意标准片集体的金属磁性和表面粗糙度应当与试件相似。⒉测量时侧头与试样表面保持垂直。⒊测量时要注意基体金属的临界厚度，如果大于这个厚度测量就不受基体金属厚度的影响。⒋测量时要注意试件的曲率对测量的影响。因此在弯曲的试件表面上测量时不可靠的。



辽宁膜厚仪EDX8000T Plus-苏州英飞思科学由苏州英飞思科学仪器有限公司提供。苏州英飞思科学仪器有限公司是从事“光谱仪,合金分析仪,矿石分析仪”的企业，公司秉承“诚信经营，用心服务”的理念，为您提供更好的产品和服务。欢迎来电咨询！联系人：张经理。