刹车片磨损监测-杭州磨损监测-宁波慧声智创
1) PIL(Processer-In-Loops)处理器在环测试,磨损监测机构,目的是测试自动生成的代码写入控制器后,刹车片磨损监测,功能实现上是否与模型有偏差。PIL看似无关紧要,但不做重视也会引起一些不良后果(如调度问题、CPU Load,堆栈溢出等)
2) HIL(Harware-In-Loops)硬件在环测试,测试控制器完整系统功能,一般会搭建控制器所在系统的测试台架,使用电气元件模拟传感器(如温度)和执行器(如风扇负载)的电气特性,验证完整的系统功能。
连接器测试电学试验(电压降测试、接触电阻测量、绝缘测试、瞬断测试)
机械试验(机械振动试验、跌落试验、机械冲击试验、相关力学试验)
环境试验(温度冲击试验、温度湿度循环试验、高温老化试验、防腐蚀强度试验)
机械试验(机械冲击试验、机械振动试验、自由跌落试验、外壳强度试验)
环境试验(低温唤醒试验、高温耐久试验、低气压试验、快速温变试验、恒温恒湿试验、空气热冲击试验、温湿度循环试验、凝露试验)
盐雾试验
密封性试验(防尘、防水IP等级试验)
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