射频电磁场辐射抗扰性试验

标准依据

IEC61000 - 4 - 3

EN61000-4-3

GB/T17626.3

试验目的

评定电子通讯设备或系统受到电磁辐射骚扰时的性能。

试验设备

全电波暗室

功率放大器

射频信号发生器

抗扰度天线

场强探头

配套计算机及软件

试验等级（严酷度等级）

干扰电场强度的波形 (1kHz正弦波80%调幅 )



均匀域校准

试验的实施

用1kHz的正弦波对信号进行80％的幅度调制后， 在80～1000MHz频率范围内进行扫频测量，扫描步长为前一频率的1 ％，这一部分都通过计算机及软件控制实现；

每一频点上扫描停留时间不应短于受试设备操作和反应所需的时间，一般设为1-3秒钟，如果对产品有特别要求，可以延长停留时间；

受试设备应在发射天线的水平和垂直极化下进行试验 。

试验结果判定

对于情形a，判为合格。

对于情 形b、c、d，判为不合格。

辐射骚扰场强

设备端口

电场天线

磁场天线

根据麦克斯韦方程，变化电场产生变化磁场，变化磁场产生变化电场。

设备内每个电路都可能是等效磁场天线，机壳和电缆都可能是等效电场天线的一部分。

辐射骚扰测量范围

30MHz～18GHz，测量电场（E）

1GHz以下，开阔场地或半电波暗室，半自由空间。

1GHz以上 全电波暗室，电磁兼容性检测费用，模拟自由空间。

9KHz ～30MHz，电磁兼容性检测，测量磁场（ H ）

EUT较小，放在大磁环天线（LLA）中，测量骚扰磁场的感应电流。

EUT较大，采用远天线法，用单小环在规定距离测量骚扰的磁场强度。

测量场所‐开阔场地



测量场所‐半电波暗室

辐射骚扰测量天线

辐射骚扰测量设备

9kHz‐30MHZ辐射骚扰测量

30‐1000MHz辐射骚扰测量

1‐18GHz辐射骚扰测量



30‐1000MHz辐射骚扰测量

辐射骚扰场强计算

F (天线因子) = E/U

用dB值表示为F(dB) = E(dB) – U(dB)    E(dB) = U(dB) + F(dB)

被测场强E(dB) = 测量接收机读数U(dB) + 天线系数F(dB) + 电缆损耗L(dB)

L2 （dB）＝ L1 （dB）+ 20lg（d1/d2）

式中L1和 L2分别为测试距离为d1 和d2时的辐射限值

待测物工作状态遵循原则

EUT应按设计要求在额定（标称）工作电压和负载条件（机械性能和电气性能）下 运行。应尽可能使用实际负载；

试验程序应确保ITE（设备或系统）中的各个组成部分能够运行。

电快速瞬变脉冲群抗扰度

标准依据

IEC61000 - 4 - 4

EN61000-4-4

GB/T17626.4

试验目的

评估通讯和电子设备的供电电源端口、信号和控制端口在受到重复的快速瞬变脉冲群干扰时的性能， 验证通讯和电子设备对来自操作暂态过程 (如开断感性负荷、继电器触头弹跳等) 中的各种类型瞬变扰动的抗扰性。

试验设备

瞬变脉冲群i发生器

耦合去耦网络

容性耦合钳

试验等级（严酷度等级）

试验原理



接50Ω负载时单个脉冲的波形



电快速瞬变脉冲群图示

试验的实施

对交/直流电源端口的试验一般采用耦合、去耦网络。 如不能使用耦合/去耦网络时 ，电磁兼容性检测公司，可以使用容性耦合夹。试验电压应该通过耦合/去耦网络施加到保护地上；

对I/O端口及通信端口的试验，采用容性耦合夹。

试验结果判定

对于情形a，判为合格。

对于情 形b、c、d，判为不合格。

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