三、试块的制作工艺规范

1.制作试块前应清洗试块模具和工作面，确保无灰尘和杂物。

2.根据试块的类型和尺寸，选择合适的切割工具和设备进行切割。

3.切割试块时应保持切割面的平整和垂直，避免毛刺和尺寸偏差 。

4.制作完试块后，应进行必要的标记和编号，以便于后续使用和管理。

5.制作试块的过程应严格控制加工和尺寸要求，确保试块的误差控制在合理

范围内。

6.制作试块时应注意安全生产和环境保护，做好防护措施和废料处理。

CSK-IA试块是由IIW试块的基础上改进而来的主要用途有:

1：利用R100mm曲面测定斜探头的入射点和前沿长度;

2：利用50和1.5mm圆孔测定斜探头的折射角;

3：利用试块直角棱边测定斜探头声束轴线的偏离情况;

4：利用25mm厚度测定探伤仪水平线性、垂直线性和动态范围;

5：利用25mm厚 度调整纵波探测范围和扫描速度;

6：利用R50和R100mm曲面调节横波探测范围和扫描速度;

7：利用50、44和40mm三个台阶孔测定斜探头分辨力。

渗透试块适用范围

1、渗透试块适用于各种渗透探伤（荧光、着色）场合，与被探伤材料是否为铝合金无关；是渗透探伤质量控制zui常用的一种工具。

2、渗透试块可用于对着色探伤剂的灵敏度进行对比试验。

1.2.1在A与B的两块渗透试块的工作表面分别用已确认灵敏度符号，在渗透试块的侧面有统一的编号，号码*的A和B渗透试块的缺陷显示基本是相同并且是对称的，焊接试块生产加工，使用时要求的探伤剂与待用探伤剂按各自规定程序实施检验，将所得显像与所附参考显像图片及A和B试块两块的工作表面进行对照，可用以评价待用探伤剂的灵敏度。

1.2.2在A渗透试块和B渗透试块的工作表面，将同一种探伤剂分别在室温和某异常（高、低）温度下施用。对比所得显像与参考显像图片，可确定此探伤剂在该异常温度下能否使用。

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