直读光谱仪

干扰效应。    干扰效应也称基体效应，又称共存元素、第三元素或伴随物效应，指的是在样品中除了分析物外所有其他成分的影响，在光谱分析中能引起谱线的强度变化，导致分析结果产生一些误差，这种干扰效应是光谱分析中需要高度重视的一个问题。

分析试样和标样影响。    在实际工作中，分析试样和标样的冶炼过程和物理状态存在一定的差异，所以导致校准曲线经常出现变化，一般情况下标样大多处于锻造和轧制状态，分析样品大多处于浇铸状态，为有效防止试样的冶金状态变化影响检测分析的结果，经常使用的控制试样要保证与分析试样的冶金过程和物理状态保持一致，对试样的分析结果进行准确的控制。

光电光谱分析选用的分析线，必需符合下列要求

直读光谱分析时，一般都采用内标法。因内标法进行分析时常采用多条分析线和一条内标线组成，金属光谱检测仪厂家，常用试料中的基体元素为内标元素。组成的线对要求均称，就是当激发光源有波动时，两条线对的谱线强度虽有变化，但强度比或相对强度能保持不变。

如R表示强度比即        

R=I1/I0

I1为分析线的强度，Io为内标线强度，表明I1和Io同时变，而R则不受影响。R与含量C之间有线性关系。

在光电直读光谱分析时，有很多分析通道，要安装许多内标通道有困难，因此采用一个内标线。但有人认为再要提高光电光谱分析的准确度还得采用不同的内标线，这还有待于光电转换元件的小型化来解决。

光电法时，有时还用内标线来控制曝光量，称为自动曝光，也就是样品在曝光时，金属光谱检测仪价格，分析线和内标分别向各自积分电容充电，当内标线的积分电容器充电达到某一预定的电压时，自动截止曝光。此时分析线的积分电容器充电达到的电压即代表分析线的强度I，云南金属光谱检测仪，并且亦即代表分析线的强度比R(因为R=I1/Io，而此时Io保持常数)这个强度I或强度比R就由测光读数所表示。

现在一般采用计时曝光法较为普遍。

随着金属材料、机械制造业的发展要求越来越高，企业对各类金属材料的质量控制、原材料检验、出厂材质检验等提出了更高的要求。直读光谱仪作为金属材料行业基础的检测设备之一，被广泛应用于钢铁、冶金、铸造、机械加工等行业的来料检验、质量检测、生产过程控制。

作为企业必备的设备之一，直读光谱仪没有好坏之说，金属光谱检测仪厂家，关键是要适合企业的实际需求。俗话说，没有的，只有适合的，那么企业怎么为自己选择一款合适的直读光谱仪呢？

这里，我们先从光谱仪用户的实际应用角度进行分析，所谓应用，就是基于自己检测的材料材质和实际功用，来做选型分析，下面三个方面是您考虑的：

1、测试的材料材质（基体）和具体品种（牌号）

2、直读光谱仪的品牌、稳定性、精度、

3、就是你选择的这款直读光谱仪是否使用了的技术，是否买了就面临技术落后，是淘汰产品

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