微焦点技术的优势

1、 通过使被透照物体靠近射线源，远离胶片，获得放大的原始细节图像。减轻检测疲劳。

2、 对于一定厚度的被透照物体，微焦点可以放大被检测物的细节提供更一致的清晰度。

微焦点x射线设备具备图像放大，提高空间分辨力，减少散射的能力，从而使它成为工业CT系统的理想射线源。

X-RAY WorX GmbH是德国高科技研发型公司，研发了具有超高灵活性、超高稳定性、超高精度的开放式微焦点X射线管，失效分析，分为透射式微焦点X射线管、反射式微焦点X射线管、头X射线管和棒阳极微焦点X射线管。可根据不同的应用，选择不同的靶功率（10W、15W、25W、50W、300W等）和电压（65W、100kV、160kV、190kV、225kV、240kV和300kV等）。

　主要特点：　　1、仪器符合JEDEC JESD51-1和MIL-STD-750E标准法规。　　2、仪器兼具JESD51-1定义的静态测试法与动态测试法，能够实时器件瞬态温度响应曲线，其采样率高达1微秒，测试延迟时间高达1微秒，结温分辨率高达0.01℃。　　3、能测试稳态热阻，也能测试瞬态热阻抗。　　4、的分析法，能够分析器件热传导路径上每层结构的热学性能，构建器件等效热学模型，是器件封装工艺、可靠性试验、材料热特性以及接触热阻的强大支持工具。因此被誉为热测试中的“X射线”。　　5、可以和热软件FloEFD无缝结合，将实际测试得到的器件热学参数导入软件进行后续优化。



热阻分析仪，失效分析仪，如果应用于材料叫材料热阻分析仪，如果用于半导体分立器件称为半导体热阻分析仪，进行热测量半导体封装设备使用电交界处的温度测量方法。这些热测试包括稳态热阻，瞬态热阻抗，和芯片粘接质量检查。组件测试服务可以为半导体热表征客户装置在我厂实验室做测试。我们还提供完整系列的配件，元器件失效分析，半导体器件的热特性对所有类型的设备从集成电路分立功率器件。所有产品符合美准和适用。主要用于测试二极管，三极管，失效分析设备，LED二极管，可控硅，MOSFET，IGBT，IC等分离功率器件的热阻测试。



失效分析-苏州特斯特公司-失效分析仪由苏州特斯特电子科技有限公司提供。苏州特斯特电子科技有限公司是江苏 苏州 ,分析仪器的见证者，多年来，公司贯彻执行科学管理、创新发展、诚实守信的方针，满足客户需求。在苏州特斯特领导携全体员工热情欢迎各界人士垂询洽谈，共创苏州特斯特更加美好的未来。