微区膜厚仪EDX-8000T Plus-英飞思科学
膜厚仪EDX8000B可分析的常见镀层材料
可测试重复镀层、非金属、轻金属、多层多元素以及有机物层的厚度及成分含量。
单涂镀层应用:如Cr/Fe, Ni/Fe,微区膜厚仪EDX-8000T Plus, Ag/Cu,Zn/Fe等
多涂镀层应用:如Au/Ni/Cu, Ag/Pb/Zn, Ni/Cu/Fe等
合金镀层应用:如ZnNi/Fe, ZnAl/Ni/Cu等
合金成分应用:如NiP/Fe, 同时分析镍磷含量和镀层厚度
用于测定材料本身厚度或材料表面覆盖层厚度的仪器。有些构件在制造和检修时必须测量其厚度,以便了解材料的厚薄规格,各点均匀度和材料腐蚀、磨损程度;有时则要测定材料表面的覆盖层厚度,以保证产品质量和生产安全。根据测定原理的不同,常用测厚仪有超声、磁性、涡流、同位素等四种。超声波测厚仪超声波在各种介质中的声速是不同的,但在同一介质中声速是一常数。
微区膜厚仪EDX-8000T Plus-英飞思科学由苏州英飞思科学仪器有限公司提供。苏州英飞思科学仪器有限公司在分析仪器这一领域倾注了诸多的热忱和热情,英飞思科学一直以客户为中心、为客户创造价值的理念、以品质、服务来赢得市场,衷心希望能与社会各界合作,共创成功,共创辉煌。相关业务欢迎垂询,联系人:张经理。