滨州EDX-8000B型XRF镀层测厚仪-英飞思科学





全系列标配薄膜FP无标样分析法软件,EDX-8000B型XRF镀层测厚仪,可同时对多层镀层及全金镀层厚度和成分进行测量配合用户友好的软件界面,可以轻松地进行日常测量。材料的镀层厚度是一个重要的生产工艺参数,其选用的材质和镀层厚度直接影响了零件或产品的耐腐蚀性、装饰效果、导电性、产品的可靠性和使用寿命,因此,镀层厚度的控制在产品质量、过程控制、成本控制中都发挥着重要作用。



用于测定材料本身厚度或材料表面覆盖层厚度的仪器。有些构件在制造和检修时必须测量其厚度,以便了解材料的厚薄规格,各点均匀度和材料腐蚀、磨损程度;有时则要测定材料表面的覆盖层厚度,以保证产品质量和生产安全。根据测定原理的不同,常用测厚仪有超声、磁性、涡流、同位素等四种。超声波测厚仪超声波在各种介质中的声速是不同的,但在同一介质中声速是一常数。



测厚仪

材料的镀层厚度是一个重要的生产工艺参数,其选用的材质和镀层厚度直接影响了零件或产品的耐腐蚀性、装饰效果、导电性、产品的可靠性和使用寿命,因此,镀层厚度的控制在产品质量、过程控制、成本控制中都发挥着重要作用。英飞思开发的EDX8000B镀层测厚仪是专门针对于镀层材料成分分析和镀层厚度测定。其主要优点是准确,快速,无损,操作简单,测量速度快。可同时分析多达五层材料厚度,并能对镀层的材料成分进行快速鉴定。





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