膜厚仪EDX8000T Plus-英飞思科学仪器(图)
测厚仪
材料的镀层厚度是一个重要的生产工艺参数,其选用的材质和镀层厚度直接影响了零件或产品的耐腐蚀性、装饰效果、导电性、产品的可靠性和使用寿命,因此,镀层厚度的控制在产品质量、过程控制、成本控制中都发挥着重要作用。英飞思开发的EDX8000B镀层测厚仪是专门针对于镀层材料成分分析和镀层厚度测定。其主要优点是准确,快速,无损,操作简单,测量速度快。可同时分析多达五层材料厚度,并能对镀层的材料成分进行快速鉴定。
苏州英飞思科学仪器有限公司,英文名字:Efficiency Scientific Instrument Co.,Ltd.
公司logo和英文缩写为ESI。
英飞思ESI坐落于美丽而现代的苏州工业园。
XRF镀层测厚仪工作原理镀层测厚仪是将X射线照射在样品上,通过从样品上反射出来的第二次X射线的强度来测量镀层等金属薄膜的厚度,因为没有接触到样品且照射在样品上的X射线能量很低,所以不会对样品造成损坏。同时,测量的也可以在10秒-30秒内完成。
膜厚仪EDX8000T Plus-英飞思科学仪器(图)由苏州英飞思科学仪器有限公司提供。苏州英飞思科学仪器有限公司实力不俗,信誉可靠,在江苏 苏州 的分析仪器等行业积累了大批忠诚的客户。英飞思科学带着精益求精的工作态度和不断的完善创新理念和您携手步入辉煌,共创美好未来!