元器件失效如何分析-特斯特-甘肃元器件失效分析
PHASE12 可以测试 Rja,Rjc,Rjb Rjl 的热阻(测试原理符合 JEDEC51-1 定义的动态及静态测试
方法)
1) 瞬态阻抗(Thermal Impedance)测试,可以得到从开始加热到结温达到稳定这一过程中的瞬态阻抗
数据。
2) 稳态热阻(Thermal Resistance)各项参数的测试,其包括:Rja,Rjb,Rjc,Rjl,元器件失效分析价格, 当器件在给一定的工
作电流后。热量不断地向外扩散,达到了热平衡,这时得到的结果是稳态热阻值。在没有达
到热平衡之前测试到的是热阻抗。
3) 可以得到用不同占空比方波测试时的阻抗与热阻值。
4) 内部封装结构与其散热能力的相关性分析(Structure Function)。
5) 装片质量的分析(Die Attachment Quality Evaluation).
6) .多晶片器件的测试。
7.SOA 图表生成
8.浪涌测试
在无损检测的基础理论研究和仪器设备开发方面,中国与世界国家之间仍有较大的差距,特别是在红外、声发射等高新技术检测设备方面更是如此。常用的无损检测方法:涡流检测(ECT)、射线照相检验(RT)、超声检测(UT)、磁粉检测(MT)和液体渗透检测(PT)五种。其他无损检测方法:声发射检测(AE)、热像/红外(TIR)、泄漏试验(LT)、交流场测量技术(ACFMT)、漏磁检验(MFL)、远场测试检测方法(RFT)、超声波衍射时差法(TOFD)等。
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