手持式光谱仪原理

手持式光谱仪是一种基于XRF光谱分析技术的光谱分析仪器，当能量高于原子内层电子结合能的高能X射线与原子发生碰撞时，驱逐一个内层电子从而出现一个空穴，使整个原子体系处于不稳定的状态，当较外层的电子跃迁到空穴时，785nm手持式拉曼光谱仪厂家，产生一次光电子，击出的光子可能再次被吸收而逐出较外层的另一个次级光电子，发生俄歇效应，亦称次级光电效应或无辐射效应。所逐出的次级光电子称为俄歇电子。当较外层的电子跃入内层空穴所释放的能量不被原子内吸收，而是以光子形式放出，便产生X 射线荧光，其能量等于两能级之间的能量差。因此，射线荧光的能量或波长是特征性的，手持式拉曼光谱仪，与元素有一一对应的关系。由Moseley定律可知，只要测出荧光X射线的波长，就可以知道元素的种类，这就是荧光X射线定性分析的基础。此外，532nm手持式拉曼光谱仪厂家，荧光X射线的强度与相应元素的含量有一定的关系，据此，可以进行元素定量分析。X射线探测器将样品元素的X射线的特征谱线的光信号转换成易于测量的电信号来得到待测元素的特征信息。

手持式光谱分析仪使用方法

1.使用前认真阅读本设备操作使用规程或使用说明书，仔细检查仪器表面，如发现有明显破损或异常现象应立即更换。

2.使用该设备时应正确佩戴设备防带，手握设备时应先把防滑带套入手腕，以防设备损坏。

3.测量前应保证被测面露出金属光泽。按下电源开关，仪器发出提示音，液晶屏幕显示数据后，直接在触摸屏上输入1、2、3、4、E进入操作界面（主界面）。

手持式拉曼光谱仪产品原理

手持式光谱仪在实际工作中被测量的样品，往往其成份是由多种元素组成，除待测元素以外的元素统称为基体。由于被测量的样品中，其基体成份是变化的（这个变化一是指元素的变化，二是指含量的变化），手持式光谱仪直接影响待测元素特征X射线强度的测量。换句话说，待测元素含量相同，由于其基体成份不同，测量到的待测元素特征X射线强度是不同的，这就是基体效应。基体效应是X射线荧光定量分析的主要误差来源之一。基体效应是个无法避免的客观事实，其物理实质是激发（吸收）和散射造成特征X射线强度的变化，1064nm手持式拉曼光谱仪，除待测元素外，基体成份中靠近待测元素的那些元素对激发源的射线和待测元素特征X射线产生光电效应的几率比轻元素（在地质样品中一些常见的主要造岩元素）的几率大得多，也就是这些邻近元素对激发源发射的X射线和待测元素的特征X射线的吸收系数比轻元素大得多；轻元素对激发源放出的射线和待测元素的特征X射线康普顿散射几率比重元素大得多。

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