镀层测厚仪膜厚仪厂商-苏州英飞思科学-盘锦镀层测厚仪膜厚仪
苏州英飞思科学仪器有限公司,英文名字:Efficiency Scientific Instrument Co.,Ltd.
公司logo和英文缩写为ESI。
英飞思ESI坐落于美丽而现代的苏州工业园。
XRF镀层测厚仪工作原理镀层测厚仪是将X射线照射在样品上,通过从样品上反射出来的第二次X射线的强度来测量镀层等金属薄膜的厚度,盘锦镀层测厚仪膜厚仪,因为没有接触到样品且照射在样品上的X射线能量很低,所以不会对样品造成损坏。同时,测量的也可以在10秒-30秒内完成。
英飞思XRF镀层测厚仪优势
>微光斑X 射线聚焦光学器件
通过将高亮度一次 X 射线照射到0.02mm的区域,实现高精度测量。
>硅漂移探测器 (SDD) 作为检测系统
高计数率硅漂移检测器可实现高精度测量。
>高分辨率样品观测系统
的点位测量功能有助于提高测量精度。
>全系列标配薄膜FP无标样分析法软件,可同时对多层镀层及全金镀层厚度和成分进行测量
配合用户友好的软件界面,可以轻松地进行日常测量。
镀层测厚仪膜厚仪厂商-苏州英飞思科学-盘锦镀层测厚仪膜厚仪由苏州英飞思科学仪器有限公司提供。苏州英飞思科学仪器有限公司是江苏 苏州 ,分析仪器的见证者,多年来,公司贯彻执行科学管理、创新发展、诚实守信的方针,满足客户需求。在英飞思科学领导携全体员工热情欢迎各界人士垂询洽谈,共创英飞思科学更加美好的未来。