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X - 50的特点是采用PiN二极管技术，这是在SDD硅漂移探测器出现之前的前一代探测器。PiN技术处理的x射线比硅漂移探测器低10x - 20x。然而，对于诸如不锈钢、高温度、铜合金等基本的分类，或在土壤、矿石、粉末或重金属等方面的基础分析，PiN技术的终效果是令人比较满意的。

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现场监控

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◆作业现场动态管控，有害元素检测，有害废料筛选

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