毫米波测试-德普福-毫米波测试方法





连接器的发展应向小型化、高密度、高速传输、高频方向发展。小型化是指连接器中心间距更小,高密度是实现大芯数化。高密度PCB(印制电路板)连接器有效接触件总数达600芯,毫米波测试,专门用的器件较多可达5000芯。高速传输是指现代计算机、信息技术及网络化技术要求信号传输的时标速率达兆赫频段,脉冲时间达到亚毫秒,因此要求有高速传输连接器。高频化是为适应毫米波技术发展,射频同轴连接器均已进入毫米波工作频段。






因为ADC要在越来越高的频率下工作,所以中频采样结构的功耗变得比头一种超外差结构越来越高,并因此而越来越昂贵,这是中频采样结构的较主要的缺点。由于这个原因,基于中频采样的射频结构往往更适合那些在相对低频或者中频的应用,毕竟这些频段对成本的影响不大。不过随着科技的发展,毫米波测试方法,尤其是CMOS工艺的引进,毫米波自动化测试,使得集成高的性能的器件和电路的价格越来越低,在不远的将来,中频采样结构将不再是一种昂贵的选择。






 温度、湿度以及其它环境条件是由电连接器所处的位置决定的,因而应考虑该位置及预期的环境。而其它相关贮存条件的适用期(shelflife)以及信息是什么。对环境的阐述中也应当涵盖有对冲击与振动的要求,包括出自于海运方面的要求,以及生产环境条件例如焊接温度与焊接周期持续时间的要求。连接器供应商表示,在连接器所导引的汇合型持续电流周围就是高温度产生的区域。






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