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一种多通道高精密LCR测试系统 [0011]在本发明中,上饶测试治具,进一步的,所述信号转换电路包括信号调制电路以及ADC电路,所述信号调制电路与所述ADC电路连接,所述信号调制电路用于对采集的正弦信号调节增益,所述ADC电路用于对信号进行转换。[0012]在本发明中,进一步的,所述信号测量单元包括四路结构相同的采集电路,所述采集电路包括运算放大器U601,所述运算放大器U601的正极输入引脚与所述差分电路连接。
适用领域:12寸Wafer、IC测试之产品LCD半自动探针台机械手臂取放片电动、键入坐标寻位置量测尺寸(mm):1800x1600、1300x1200、1200x1000LCD手动探针台白炽灯或者LED整面背光TFT元件特性、Driver IC量测分析机台尺寸(mm):800x600、500x400、300x300PCB量测探针台(TDR)高频测试探头GSG / GS / SG频率10GHZ / 40GHZ / 50GHZ / 67GHZ机台尺寸同LCD 探针台太阳能产业探针台(Solar Cell 量测系统)
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