瑕疵检测是科技新型研发瑕疵检测系统。主要是通过工业摄像头，定位系统，视觉CCD检测模式。

影像处理项目

科技新型研发瑕疵检测系统，武汉市海维鑫科技有限公司所开发软体功能涵盖了：图形对比、瑕疵辨识、字元辨识、条形码辨识，几乎包含影像处理的所有项目，可以满足客户的需求。

表面瑕疵检测是精密零部件质量检测环节极其重要的步骤。

薄膜是一种薄而软的透明薄片。用塑料、胶粘剂、橡胶或其他材料制成。薄膜科学上的解释为：由原子，分子或离子沉积在基片表面形成的2维材料。例：光学薄膜、复合薄膜、超导薄膜、聚酯薄膜、尼龙薄膜、塑料薄膜等等。薄膜被广泛用于电子电器，机械，印刷等行业。

薄膜测厚仪专门适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度的测量。

仪器利用积分球实现光谱漫反射率的测量，由卤钨灯发出的光线，经聚光镜和滤色1片成兰紫色光线，进入积分球，光线在积分球内壁漫反射后，照射在测试口的试样上，由试样反射的光线经聚光镜、光栏滤色1片组后由硅光电池接收，视觉检测设备，转换成电信号。另有一路硅光电池接收球体内的基底信号。两路电信号分别放大，混合处理，测定结果数码显示，内置打印机打印。

视觉检测设备-海维鑫检测设备由武汉市海维鑫科技有限公司提供。武汉市海维鑫科技有限公司坚持“以人为本”的企业理念，拥有一支高素质的员工队伍，力求提供更好的产品和服务回馈社会，并欢迎广大新老客户光临惠顾，真诚合作、共创美好未来。海维鑫——您可信赖的朋友，公司地址：湖北省武汉市江岸区汉黄路888号岱家山科技城10栋803，联系人：张星雨。