不同的元素所释放出来的二次X射线具有特定的能量，这一个过程就是我们所说的X射线荧光（XRF）。探测系统测量这些出来的二次X射线的能量及数量。然后仪器软件将探测系统所收集到的信息转换成样品中各种元素的种类及含量——每种元素的发射强度与样品中的元素含量成正比，通过预先设置好的校正曲线计算出来，可显示其含量。特点分析范围：0.3%～99.99%测量时间：自适应测量精度：±0.1%测试环境：常温常态.

EDX9000B荧光光谱仪

采用铂-黄坩埚熔融法制样，对铜精铜，硫铁矿，方铅矿样品中主量元素S，Fe，Cu，Pb等进行X射线荧光光谱测定.采用低温预氧化处理，EDX-8000MAXSDD贵金属分析仪，以偏硼酸锂，四硼酸锂混合物作熔剂，化锂作玻璃片脱模剂.结果表明，此法克服了颗粒度效应，避免了铂黄坩埚腐蚀的危险，同时由于它的高度均质化，提高了测量的准确度，测量结果令人满意，苏州英飞思科学仪器有限公司苏州英飞思科学仪器有限公司

X 射线荧光光谱仪的不断完善和发展所带动的X 射线荧光分析技术已被广泛用于冶金、地质、矿物、石油、化工、生物、、刑侦、考古等诸多部门和领域。X 射线荧光光谱分析不仅成为对其物质的化学元素、物相、化学立体结构、物证材料进行试测，对产品和材料质量进行无损检测，对人体进检和微电路的光刻检验等的重要分析手段，也是材料科学、生命科学、环境科学等普遍采用的一种快速、准确而又经济的多元素分析方法。




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