1. 确定原试块的孔径尺寸和平底孔形状。根据制造标准中的规定,确定原试块的孔径尺寸和平底孔形状,以备后续计算使用。
2. 计算新试块的孔径尺寸。根据平底孔直径3到直径2的换算关系,计算新试块的孔径尺寸。具体计算方法可参考制造标准中的相关规定。
3. 制作新试块。根据计算得到的新试块的孔径尺寸和平底孔形状,焊接试块生产加工,制作新试块。在制作过程中需要注意保证精度和质量,以避免对无损检测结果造成影响。
4. 验证新试块的精度。在进行换算时,需要注意保证新试块的精度和质量符合制造标准和检测要求。一般来说,需要进行精度验证,如采用测量仪器或量具进行测量和校准等。
标准试块 和 对比试块 的区别主要体现在以下几个方面:
目的不同:标准试块 通常由权l威机构指l权l威定,用于探伤系统的性能测试或灵敏度调整。它的材质、形状、尺寸都有专门的规格标准,并且需要经过主管机关的鉴定。
对比试块 主要用于调整探伤系统的灵敏度和比较缺陷的大小,它是用来作为参考标准的,一般采用与被检测材料特性相似的材料制成。
特性的要求不同:
标准试块 必须具有规定的材质、形状、尺寸及表面状态,这些特性有专门的标准规定。
对比试块 的外形尺寸应能够代表被检工件的特征,且试块厚度应与被检工件的厚度相对应。此外,对比试块还包含人工反射体,以便与被检工件进行声学特性的比较。
使用的场合不同:标准试块 通常用于正式的检测场合,以确保检测结果的准确性和可靠性。对比试块 可能更多地用于非正式的检测过程,如在实验室环境中对探伤系统进行调试或在现场检测中使用,以帮助确定合适的参数设置。
CSK-IA试块是由IIW试块的基础上改进而来的主要用途有:
1:利用R100mm曲面测定斜探头的入射点和前沿长度;
2:利用50和1.5mm圆孔测定斜探头的折射角;
3:利用试块直角棱边测定斜探头声束轴线的偏离情况;
4:利用25mm厚度测定探伤仪水平线性、垂直线性和动态范围;
5:利用25mm厚 度调整纵波探测范围和扫描速度;
6:利用R50和R100mm曲面调节横波探测范围和扫描速度;
7:利用50、44和40mm三个台阶孔测定斜探头分辨力。
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