1) PIL(Processer-In-Loops)处理器在环测试，目的是测试自动生成的代码写入控制器后，功能实现上是否与模型有偏差。PIL看似无关紧要，但不做重视也会引起一些不良后果（如调度问题、CPU Load，堆栈溢出等）

2) HIL(Harware-In-Loops)硬件在环测试，测试控制器完整系统功能，一般会搭建控制器所在系统的测试台架，使用电气元件模拟传感器（如温度）和执行器（如风扇负载）的电气特性，验证完整的系统功能。

PV试验在DV试验基础上增加环境模拟试验。所用零件必须是正常生产线下来的模具件。环境模拟包括粉尘、温度震动、温湿冲击、温度冲击等。在实验室温箱中实现全生命周期的老化过程。老化之后的零件进行基础点爆，需满足设计要求。涉及到环境耐久，属于长周期试验，一轮一般至少需要3个月。供应商内部的子零件测试会更加严格，如发生器的温湿试验，设计冗余要大于整车使用寿命。

人耳对产品噪声的主观感受可以由加速度传感器直接测量产品振动代替。

﹨三分之一倍频程谱可以分频段选择性评估，同时根据产品要求分频段定义上限值。但是一些瞬态信号，空压机监测仪，周期性信号也无法单独通过频率识别。

另一种方法是通过声品质心理声学指标参数来评价。应注意的是，由于非线性，这些特性需要jing确定义试验条件。目前，心理声学参数仅针对麦克风测试制定了评价标准

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