英飞思XRF镀层测厚仪优势

>微光斑X 射线聚焦光学器件

通过将高亮度一次 X 射线照射到0.02mm的区域，实现高精度测量。

>硅漂移探测器 (SDD) 作为检测系统

高计数率硅漂移检测器可实现高精度测量。

>高分辨率样品观测系统

的点位测量功能有助于提高测量精度。

>全系列标配薄膜FP无标样分析法软件，可同时对多层镀层及全金镀层厚度和成分进行测量

配合用户友好的软件界面，膜厚仪EDX8000TPlus，可以轻松地进行日常测量。

使用注意事项编辑 语音测厚仪的测试方法主要有：磁性测厚法，测厚法，电解测厚法，涡流测厚法，超声波测厚法。测量注意事项：⒈在进行测试的时候要注意标准片集体的金属磁性和表面粗糙度应当与试件相似。⒉测量时侧头与试样表面保持垂直。⒊测量时要注意基体金属的临界厚度，如果大于这个厚度测量就不受基体金属厚度的影响。⒋测量时要注意试件的曲率对测量的影响。因此在弯曲的试件表面上测量时不可靠的。

>镀铬，例如带有装饰性镀铬饰面的塑料制品

>钢上锌等防腐涂层

>电路板和柔性PCB上的涂层

>插头和电触点的接触面

>电镀液分析

>镀层，如金基上的铑材料分析

>电镀液分析

>分析电子和半导体行业的功能涂层

>分析硬质材料涂层，例如 CrN、TiN 或 TiCN

>可拓展增加RoHS有害元素分析功能

镇江膜厚仪EDX8000TPlus-英飞思科学仪器公司由苏州英飞思科学仪器有限公司提供。苏州英飞思科学仪器有限公司为客户提供“光谱仪,合金分析仪,矿石分析仪”等业务，公司拥有“英飞思”等品牌，专注于分析仪器等行业。，在苏州工业园区唯新路69号一能科技园2号楼407室的名声不错。欢迎来电垂询，联系人：张经理。