同品牌ICT的测试原理相同或相似。上世纪80年代前后，测试治具品牌，日本将美国同类产品加以简化和小型化，并改成使用气动压床式，测试治具，代表的有日本TESCON，测试治具规格，OKANO，使得ICT简单易用并低成本，测试治具价格，使之成为电子厂不可或缺的必备检测设备，并迅速推广普及。80年代台湾由令西方头疼的电子电脑假货来源地逐渐成为电子代工制造重要基地，于上世纪80年代后期，90年代初期，台湾开始完全TESCON测试仪。




搭配Probe card测试适用领域：8寸/6寸Wafer、IC测试之产品电动型chuck尺寸1200mm，平坦度土1u（不锈钢或镀金）X，Y电动移动行程300mm x 300mmchuck粗调升降9mm，微调升降16mm，微调精度土1u可搭配MITUTOYO晶像显微镜或者AEC实体显微镜针座摆放个数8～12颗显微镜X-Y-Z移动范围2“x2”x2“材质：花岗岩台面+不锈钢可搭配Probe card测试




当治具出现断针和老化时可换针维护继续使用。当治具出现损坏无法修复使用和客户变更不再使用的，可申请报废重新制作。治具领用由电测房负责人登记领用，用完后归还于治具房并做好交接。功能描述:* 功能检测* 接触电阻测量* 两级灵敏度检测* 绝缘性检测* 键盘指示灯LED正反向检测* 恒定压力触压* 测试参数可设定* 测试数据文件化管理* 群组方式测试，把一百多个键划分为8至10组一起测试，极大地提高测试速度。




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