郑州微区膜厚仪EDX-8000T Plus-英飞思科学仪器公
膜厚仪EDX-8000B型XRF镀层测厚仪
Simply The Best
>微光斑X 射线聚焦光学器件
通过将高亮度一次 X 射线照射到0.02mm的区域,实现高精度测量。
>硅漂移探测器 (SDD) 作为检测系统
高计数率硅漂移检测器可实现高精度测量。
>高分辨率样品观测系统
的点位测量功能有助于提高测量精度。
膜厚仪EDX8000B可分析的常见镀层材料
可测试重复镀层、非金属、轻金属、多层多元素以及有机物层的厚度及成分含量。
单涂镀层应用:如Cr/Fe, Ni/Fe, Ag/Cu,Zn/Fe等
多涂镀层应用:如Au/Ni/Cu, Ag/Pb/Zn,微区膜厚仪EDX-8000T Plus, Ni/Cu/Fe等
合金镀层应用:如ZnNi/Fe, ZnAl/Ni/Cu等
合金成分应用:如NiP/Fe, 同时分析镍磷含量和镀层厚度
郑州微区膜厚仪EDX-8000T Plus-英飞思科学仪器公司由苏州英飞思科学仪器有限公司提供。苏州英飞思科学仪器有限公司坚持“以人为本”的企业理念,拥有一支高素质的员工队伍,力求提供更好的产品和服务回馈社会,并欢迎广大新老客户光临惠顾,真诚合作、共创美好未来。英飞思科学——您可信赖的朋友,公司地址:苏州工业园区唯新路69号一能科技园2号楼407室,联系人:张经理。