EDX-8000MAXSDD贵金属分析仪-英飞思科学(推荐商
(这些影响因素在不同情况下将对特征谱线强度的采集产生很大的影响,EDX-8000MAXSDD贵金属分析仪,甚至造成误判):a)被测样品与标准物质所含元素组成和含量有较大的差异;b)被测样品的表面有镀层或经化学处理;c)测量时间;d)样品的形状;e)样品测量的面积;f)的含量多少;XRF光谱测金仪出来的结果通常需要理解,由于被测的首饰产品不同,使用的仪器不同,检测人员的素质水平不同,对检测结果的接收范围建议在以下范围内选取。
分析原理能量色散X射线荧光分析法分析元素Si~U(Cd/Pb/Cr/Hg/Br高精度型)Na~U(任选:φ1.2mm/φ0.1mm切换方式型)
样品室气氛大气X射线管靶材Rh管电压50KV管电流1mAX射线照射径1/3/5mm防护
检测器硅SIPIN探测器光学图像观察倍率15倍
X射线荧光光谱仪(X-ray Fluorescence Spectrometer,简称:XRF光谱仪)X射线荧光光谱仪(X-ray Fluorescence Spectrometer,简称:XRF光谱仪)。
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