大庆多通道LCR测试仪-科迪仪器(推荐商家)
搭配Probe card测试适用领域:8寸/6寸Wafer、IC测试之产品电动型chuck尺寸1200mm,平坦度土1u(不锈钢或镀金)X,Y电动移动行程300mm x 300mmchuck粗调升降9mm,微调升降16mm,微调精度土1u可搭配MITUTOYO晶像显微镜或者AEC实体显微镜针座摆放个数8~12颗显微镜X-Y-Z移动范围2“x2”x2“材质:花岗岩台面+不锈钢可搭配Probe card测试
* 群组分配错误自动侦测,系统使用人工智能自动根据每一组内各键的矩阵特性检查各键的性,剔出冲突的组合。* 大键(如空格键)多点检测,可检测大键的平衡性能* 自动读取基本数据 ,读多少个按键测多少个按键,测试项目可以自由制定。* 滑轨式工作平台,取放工件轻松方便,提高生产效率又保证工人安全。* 设有自动、手动两种模式,可自由转换,即方便调试又可提高生产效率。* 密码保护,权限管理,防止数据被无意或恶意篡改,保证测试的有效性。
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