x射线发生装置角度校准的光学新方法

目前x射线发生装置的角度检定和校准测试主要依据JJG 629—1989《多晶X射线衍射仪检定规程》和JB/T 9400—2010《X射线衍射仪技术条件》等技术文件，低能x射线发生装置价格，具体方法是采用光学经纬仪或多面棱体等进行测试，该测量方法实际应用中存在一定难度，其次测量间隔较大，不能很好反映真实的角度误差规律.为此，低能x射线发生装置报价，提出了利用θ角和2θ角同轴并可独立运动的特点，组合采用光电自准直仪和小角度激光干涉仪等仪器，设计了一种新的XRD的角度校准方法，它能够自动快速地连续测量角度，取k=2时，扩展不确定度约1.2″.使用该方法测试能够得到θ和2θ轴的误差数据，低能x射线发生装置哪家好，可用于修正XRD测角误差，提高XRD测试精度.该方法也适用于同步辐射等大型衍射系统等其他需要角度校准的情况.

x射线发生装置应用范围：

工业用X射线衍射仪在当今科技领域里用来分析各种物质成分结构的测试仪器已得到了广泛的应用。对材料学、物理学、化学、地质、环境、纳米材料、生物等领域来说，X射线衍射仪都是物质表征和质量控制不可缺少的方法。XRD能分析晶体材料诸如产业废弃物、矿物、催化剂、功能材料等的相组成分析，新疆低能x射线发生装置，大部分晶体物质的定量、半定量分析；晶体物质晶粒大小的计算；晶体物质结晶度的计算等。

x射线发生装置的分类

X射线衍射仪分为单晶衍射仪和多晶衍射仪两种。单晶衍射仪的被测对象为单晶体试样，主要用于确定未知晶体材料的晶体结构。基本原理：在一粒单晶体中原子或原子团均是周期排列的。将X射线（如Cu的Kα辐射）射到一粒单晶体上会发生衍射，由对衍射线的分析可以解析出原子在晶体中的排列规律，也即解出晶体的结构。

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