射频电磁场辐射抗扰性试验
标准依据
IEC61000 - 4 - 3
EN61000-4-3
GB/T17626.3
试验目的
评定电子通讯设备或系统受到电磁辐射骚扰时的性能。
试验设备
全电波暗室
功率放大器
射频信号发生器
抗扰度天线
场强探头
配套计算机及软件
试验等级（严酷度等级）
干扰电场强度的波形 (1kHz正弦波80%调幅 )
均匀域校准
试验的实施
用1kHz的正弦波对信号进行80％的幅度调制后， 在80～1000MHz频率范围内进行扫频测量，扫描步长为前一频率的1 ％，这一部分都通过计算机及软件控制实现；
每一频点上扫描停留时间不应短于受试设备操作和反应所需的时间，一般设为1-3秒钟，如果对产品有特别要求，可以延长停留时间；
受试设备应在发射天线的水平和垂直极化下进行试验 。
试验结果判定
对于情形a，南京电磁兼容，判为合格。
对于情 形b、c、d，判为不合格。
辐射骚扰场强
设备端口
电场天线
磁场天线
根据麦克斯韦方程，变化电场产生变化磁场，变化磁场产生变化电场。
设备内每个电路都可能是等效磁场天线，机壳和电缆都可能是等效电场天线的一部分。
辐射骚扰测量范围
30MHz～18GHz，电磁兼容测试标准，测量电场（E）
1GHz以下，电磁兼容性标准，开阔场地或半电波暗室，半自由空间。
1GHz以上 全电波暗室，模拟自由空间。
9KHz ～30MHz，测量磁场（ H ）
EUT较小，放在大磁环天线（LLA）中，测量骚扰磁场的感应电流。
EUT较大，采用远天线法，用单小环在规定距离测量骚扰的磁场强度。
测量场所‐开阔场地
测量场所‐半电波暗室
辐射骚扰测量天线
辐射骚扰测量设备
9kHz‐30MHZ辐射骚扰测量
30‐1000MHz辐射骚扰测量
1‐18GHz辐射骚扰测量
30‐1000MHz辐射骚扰测量
辐射骚扰场强计算
F (天线因子) = E/U
用dB值表示为F(dB) = E(dB) – U(dB) E(dB) = U(dB) + F(dB)
被测场强E(dB) = 测量接收机读数U(dB) + 天线系数F(dB) + 电缆损耗L(dB)
L2 （dB）＝ L1 （dB）+ 20lg（d1/d2）
式中L1和 L2分别为测试距离为d1 和d2时的辐射限值
待测物工作状态遵循原则
EUT应按设计要求在额定（标称）工作电压和负载条件（机械性能和电气性能）下 运行。应尽可能使用实际负载；
试验程序应确保ITE（设备或系统）中的各个组成部分能够运行。
静电放电抗扰度试验
标准依据
IEC 61000 - 4 - 2
EN 61000 - 4 - 2
GB/T 17626.2
试验目的
模拟操作人员或物体在接触设备时放电及人或物体对邻近物体的放电，电磁兼容测试，以考察被试设备抵抗静电放电干扰能力。前者是通过导体直接耦合，属于直接放电影响。 后者是通过空间辐射耦合，属于间接放电影响。
试验设备
静电脉冲发生器
试验等级（严酷度等级）
试验原理
静电放电电流的典型波形
静电放电电流的典型波形参数
台式设备实验室配置图
立式设备实验室配置图
试验环境条件
环境温度：15 ~ 35 ℃
相对湿度：30 ~ 60 %
大气压力：86~106 kPa
试验的实施
接触放电使用尖形放电电极，空气放电使用圆形放电电极；
优先采用接触放电；
直接放电试验，放电电极直接对被试设备进行放电试验。试验对象包括用户在使用中可能触及到的任何地方以及在带电维护和校正时可能触及的地方。如：金属簧i片、机壳、机框、按 键、螺丝、指示灯、开关等；
间接放电试验可对水平耦合板和垂直耦合板进行放电；
试验速率 1 次/s，每个放电点至少在正负极性各放电10 次。
试验结果判定
a. 在试验过程中，设备的工作完全正常 设备的工作完全正常。
b. 在试验中，设备受干扰影响产生了暂时性的功能降低，但撤消干扰后，设备的功能可
以自动恢复正常。
c. 在试验中，设备受干扰影响产生了暂时性的功能降低，但干扰撤消后，设备的功能需
要人工复位后方能恢复。
d. 在试验中，受干扰的设备产生了不可逆转的损伤，包括元器件的损伤 、软件或数据
丢失等。
对于情形a、b，判为合格。
对于情形c、d，判为不合格。
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