半导体射频测试-德普福电子-半导体射频测试技术





有源电子标签内装有电池,一般具有较远的阅读距离,半导体射频测试,不足之处是电池的寿命有限(3~10年);无源电子标签内无电池,它接收到阅读器(读出装置)发出的微波信号后,将部分微波能量转化为直流电供自己工作,半导体射频测试厂家,一般可做到免维护。相比有源系统,无源系统在阅读距离及适应物体运动速度方面略有限制。

生产RFID产品的很多公司都采用自己的标准,国际上还没有统一的标准。ISO18000。应用较多的是ISO14443和ISO15693,这两个标准都由物理特性、射频功率和信号接口、初始化和反碰撞以及传输协议四部分组成。






对于连接器而言,什么样的体积与覆盖面积(footprint)是有效的;可允许的尺寸公差是多少;端子的插入与拨出力是多少;连接器的耐用性(插拔配合的频率)如何?这些因素都是在选择电连接器时要考虑的。如:对于印刷电路板而言,确定电路板的公差是很重要的,它是卡缘连接器(cardedgeconnection)的临界值,以及达到临界的可行性。对于小功率电路,镀层与底层材料必须指明与信号标准与环境等级相一致。






在耦合方式(电感-电磁)、通信流程(FDX、HDX、SEQ)、从射频卡到阅读器的数据传输方法(负载调制、反向散射、高次谐波)以及频率范围等方面,不同的非接触传输方法有根本的区别,但所有的阅读器在功能原理上,以及由此决定的设计构造上都很相似,所有阅读器均可简化为高频接口和控制单元两个基本模块。高频接口包含发送器等,其功能包括:产生高频发射功率以启动射频卡并提供能量;对发射信号进行调制,用于将数据传送给射频卡;接收并解调来自射频卡的高频信号。不同射频识别系统的高频接口设计具有一些差异。






半导体射频测试-德普福电子-半导体射频测试技术由昆山德普福电子科技有限公司提供。半导体射频测试-德普福电子-半导体射频测试技术是昆山德普福电子科技有限公司今年新升级推出的,以上图片仅供参考,请您拨打本页面或图片上的联系电话,索取联系人:马向阳。

昆山德普福电子科技有限公司
姓名: 马向阳 先生
手机: 13812951881
业务 QQ: 907469301
公司地址: 江苏省昆山市玉山镇玉杨路1001号3幢301
电话: 0512-55271106
传真: 0512-55271106