集成电路三温测试设备-天一瑞合-集成电路三温测试设备好处
规范要求:冷热冲击试验箱平衡式调温PID+PWM+SSR系统,温度控制稳定,集成电路三温测试设备好处,精l确。.正压式出风口设计,保证每个角落均有风循环到,温度达到高均匀度要求.高/低温风道系统3s切换完成,高/低温冲击5min内回复.冷冻系统:冷热冲击试验箱模块化制冷系统,效率l高,安装维护方便.冲击温度为-40~-60℃时采用二元式制冷系统.水浸查漏,集成电路三温测试设备厂家,查漏,潜在泄露问题.制冷系统,集成电路三温测试设备,电控系统多项安全保护机制.
温度变化试验分为三类: 1、规定转换时间的快速温度变化试验,集成电路三温测试设备有什么用处,转换时间分为:2~3min,20~30s,<10s 。 2、规定温度变化速率的温度变化试验,试验箱的温度升降变化速率(不超过5min内的平均值)应为1± 0.2℃ /min, 3± 0.6℃ /min, 5± 1℃ /min 。 3、两液槽温度快速变化试验,产生一种急剧的热冲击,适用于玻璃-金属密封及类似的试验样品.低温槽装有标准规定的低温液体,若没有规定则液体温度应为0℃,高温槽装有标准规定的高温液体,若没有规定,则液体温度应为100℃。
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