同品牌ICT的测试原理相同或相似。上世纪80年代前后，日本将美国同类产品加以简化和小型化，并改成使用气动压床式，多通道LCR测试仪哪家好，代表的有日本TESCON，OKANO，使得ICT简单易用并低成本，多通道LCR测试仪好不好，使之成为电子厂不可或缺的必备检测设备，并迅速推广普及。80年代台湾由令西方头疼的电子电脑假货来源地逐渐成为电子代工制造重要基地，于上世纪80年代后期，多通道LCR测试仪哪里有，90年代初期，多通道LCR测试仪，台湾开始完全TESCON测试仪。




种多通道高精密LCR测试系统  本发明涉及LCR测试技术领域，公开了一种多通道高精密LCR测试系统，包括与待测产品连接的若干结构相同的的扫描卡、以及与扫描卡相对设置的测量卡，若干所述扫描卡和测量卡通过背部连接板连接，所述扫描卡用于实现通道切换，所述测量卡用于实现LCR测试，所述背部连接板用于实现信号的转接，所述背部连接板连接有主控板，所述主控板用于实现对测量卡以及扫描卡的信号控制。




详细参数如下：4、量测速度：128点/10mS；5、测试方式：手动、自动、连续；6、存储管理：512KB ，可存储56组设定档案；7、电阻量测：0.1～10MΩ；8、二极管量测：0.0V～7.0V；9、电容测试：10pF～500uF10、瞬间短断路测试：2KΩ～50KΩ； 　11、瞬间导通测试：0. 1Ω-50Ω；12、导通电阻测试：0. 1～50Ω(值0.05Ω)13、绝缘阻抗测试：0.1MΩ～10MΩ




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